本發(fā)明涉及存儲(chǔ)器,尤其涉及一種存儲(chǔ)器的校驗(yàn)電路和校驗(yàn)方法、存儲(chǔ)器。、存儲(chǔ)器通過組合多個(gè)存儲(chǔ)單元實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ),存儲(chǔ)器中通常設(shè)置有譯碼電路,譯碼電路通過解析與讀寫控制相關(guān)的控制信號(hào)實(shí)現(xiàn)對(duì)存儲(chǔ)器中目標(biāo)存儲(chǔ)單元的讀寫操作。、但是,在高溫、輻射或老化等條件下,譯碼電路易發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)或邏輯錯(cuò)誤,而傳...